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HITACHI HF5000 球差场发射透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。
JEOL JEM-ARM300F2 原子分析型电子显微镜是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。
赛默飞Talos F200X G2 TEM 透射电子显微镜是一款扫描透射电子显微镜，其将出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像与能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测相结合。
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