JEOL JEM-ARM300F2 原子分析型电子显微镜是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。

JEOL JEM-ARM300F2 原子分析型电子显微镜是GRAND ARMTM的第二代产品，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。

产品特点

• FHP2 新型物镜极靴

保证超高空间分辨率观察的同时，优化FHP物镜极靴的形状以满足大尺寸双SDDs（158mm2）的需求，x射线有效检测效率提高了两倍以上，实现亚埃级分辨率的EDS元素面分析。

• 新型屏蔽体

TEM柱采用箱式外壳，可减少温度、气流、噪声等环境变化的影响，从而提高显微镜的稳定性。

• ETA 校正器 & JEOL COSMO™

快速准确的像差校正

• 稳定性提高

CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了发射体附近的真空、发射电流、探针电流的稳定性。其他改进也提高了显微镜的稳定性和对各种干扰的抵抗力。

• OBF System (可选件) *

在新的成像方法“OBF STEM"中，JEOL JEM-ARM300F2 原子分析型电子显微镜通过分段式 STEM 探测器获取的原始图像被用作相位图像重建的来源，并使用专用的傅里叶滤波器来强化所恢复图像的信噪比。这种有前景的方法即使在极低的电子剂量条件下也能实现重元素和轻元素的更高对比度。对于标准 ADF 和 ABF STEM 方法难以观察的对电子束敏感的材料，也可以在广泛的放大倍数范围内以更高的对比度轻松进行分析。K. Ooe, T. Seki, et al., Ultramicroscopy 220, 113133 (2021)

• STEM 低剂量成像

包括金属有机框架（MOFs）和沸石在内的对电子束敏感的材料需要降低电子剂量（通常，探针电流< 1.0 pA），同时保持轻元素框架的清晰原子对比度。对于此类低剂量实验，OBF STEM 具有优势，能够实现原子分辨率下的超高剂量效率 STEM 成像。

OBF STEM 图像 MOF MIL-101（左）和 MFI 沸石（右）均在单次拍摄中获得，右插图中的 FFT 图案也能观察到 1 埃的高空间分辨率。此外，堆叠图像平均（左插图）证实了分辨率和对比度达到了很好的平衡。

• 高对比度轻元素成像

除了具有很高的剂量效率外，OBF STEM 在轻元素成像方面也具有优势。即使在较低的加速电压下，也能实现轻元素的高对比度和高空间分辨率成像