
当摩尔定律在平面制程上逼近物理极限,半导体产业的发展重心正从 “二维缩小" 转向 “三维堆叠"。从 HBM 高带宽内存的狂飙,到 Chiplet 异构集成的规模化落地,再到 3D IC 的前沿探索,晶圆键合技术已然成为突破芯片性能边界的核心工艺。
01
什么是晶圆键合?

晶圆键合(Wafer Bonding Technology),是指将两片或多片经过原子级镜面抛光的同质 / 异质半导体晶圆,通过化学或物理作用实现紧密贴合,使界面原子发生反应形成共价键、金属键等稳定化学键,最终让多片晶圆合为一体的精密制造技术。
简单来说,这项技术就像是半导体领域的 “纳米级焊接",能把不同工艺、不同材料、不同功能的晶圆 / 芯片精准 “粘" 在一起,实现三维立体集成。其核心价值在于打破了平面集成的物理限制:
• 解决异质材料的晶格失配难题,实现硅与化合物半导体、玻璃、陶瓷等不同材料的一体化集成;
• 大幅缩短芯片互连路径,降低信号延迟和功耗,提升互连密度和带宽;
• 是晶圆 - 晶圆(W2W)、芯片 - 晶圆(D2W)堆叠的核心支撑,广泛应用于 SOI 衬底制造、MEMS 传感器、CMOS 图像传感器(CIS)、HBM 内存、3D NAND 闪存、先进逻辑芯片 Chiplet 异构集成等核心场景。
02
晶圆键合的分类及原理
一、直接键合(Direct Bonding/Fusion Bonding)

原理:无需任何中间粘合剂。将具有出色平整度和清洁度的两片晶圆(通常是氧化硅表面)在室温下对准贴合。此时依靠分子间的范德华力初步结合。随后进行高温退火(通常>1000°C),贴合界面发生化学反应(Si-OH + HO-Si → Si-O-Si + H₂O),形成坚固的共价键,实现键合。
特点:键合强度高、热稳定性好;界面电学特性优异(SiO₂是良好的绝缘体)、可实现高强度的键合,具有良好的电绝缘性;需要出色的表面平整度和洁净度(亚纳米级粗糙度)。
应用:SOI(Silicon-on-Insulator)晶圆制造、CMOS图像传感器(CIS)的键合、3D集成中的晶圆级堆叠。
二、阳极键合(Anodic Bonding/Electrostatic Bonding)

原理:主要用于硅晶圆与含碱玻璃(如硼硅玻璃)的键合。将晶圆和玻璃加热到300-400°C,同时对玻璃施加数百伏的负电压,硅片接地。高温使玻璃中的钠离子迁移,在靠近硅片的玻璃表面形成耗尽层,产生强大的静电场,使硅和玻璃界面紧密接触并发生化学反应,形成坚固的Si-O-Si共价键。
特点:键合强度高、气密性好,键合温度相对较低;工艺相对简单,设备成本较低;但只能用于特定材料组合(硅和含碱玻璃);高电场可能损坏敏感的电路。
应用:MEMS封装、压力传感器、微流体芯片。
三、共晶键合(Eutectic Bonding)

原理:利用两种金属(如Au-Si, Sn-In)形成低熔点共晶合金的特性进行键合。例如,在硅表面沉积金,加热到Au-Si共晶点(363°C)以上时,接触面的硅和金会熔化形成液态共晶合金,冷却凝固后形成牢固的键合。
特点:工艺温度相对较低、键合速度快;键合界面是金属,具有良好的电导性和热导性,可实现电学互联;但可能因材料成分变化导致键合质量不稳定。
应用:MEMS封装、光电器件封装。
四、粘合剂键合(Adhesive Bonding)

原理:使用中间聚合物层(如BCB、聚酰亚胺、光刻胶)作为粘合剂。通过旋涂等方式在晶圆上形成聚合物薄膜,然后在相对较低的温度(通常<400°C)和压力下将两片晶圆粘合在一起。
特点:键合温度较低,对表面平整度和粗糙度容忍度最高;工艺相对简单,成本较低;键合强度较低、热稳定性和气密性较差,可能放出气体,不适合做电学互联。
应用:MEMS封装、临时键合、3D集成中的绝缘层和应力缓冲层、异质集成。
五、混合键合(Hybrid Bonding)

原理:这是当前先进的技术,将直接键合和金属热压键合结合在一起。在同一工艺中,同时实现介电层(SiO₂)的直接键合和金属互连垫(Cu)的键合。
特点:实现了高密度的垂直互连(互连间距可缩小至微米级),是提升3D IC性能的关键技术;技术难度较高,对表面平整度、清洁度、以及Cu和SiO₂表面的共面性控制要求达到了原子级别。
应用:先进CMOS图像传感器、未来3D NAND闪存和逻辑芯片的堆叠。
03
晶圆键合设备通用结构

(1)晶圆工作台
作为承载和驱动晶圆的基础平台,通过平面X、Y方向和旋转方向的精确运动调整,使晶圆在机器视觉系统引导下运动到芯片拾取位置。先进设备通常支持6英寸、8英寸、12英寸晶圆兼容。
(2)芯片键合头
这是实现芯片精准拾取和放置的关键执行机构。根据运动方式可分为摆臂式和直线式两种。直线式键合头能在平面三个方向和旋转方向高速配合运动,最高精度可达亚微米级。
(3)框架传输系统
负责晶圆和芯片的自动传输、定位和上下料,确保生产流程的连续性和稳定性。
(4)机器视觉系统
通过高分辨率摄像头和图像处理算法,实现纳米级对准精度,是保证键合质量的核心。
(5)工艺执行系统
包括加热模块、压力控制模块、真空系统等。以EVG540系统为例,其包含炉体、炉盖、炉底、炉架、压头、真空获得系统、液压系统、温控系统、水冷系统等完整配置。
(6)控制系统
集成PLC和各类传感器,实现对温度、压力、真空度等工艺参数的精确控制和实时监测。
04
晶圆键合工艺流程

(1)表面预处理:通过化学清洗、等离子体活化等工艺,使晶圆表面原子级平整,去除杂质与缺陷;
(2)精确对准:将两片晶圆上的对准标记精确重合,以确保后续电气连接的正确性;
(3)预键合:将两片对准的晶圆贴合在一起,利用分子间作用力使晶圆初步贴合;
(4)退火强化:通过高温加热使原子间形成牢固的共价键,从而将两片晶圆结合在一起;
(5)质量检测:检测键合强度、对准精度与可靠性。
05
技术挑战和发展前景
核心挑战:
• 高精度对准难题:随着互连密度不断提升,对对准精度的要求已达到纳米级别。任何微小的偏差都会导致连接失效。
• 洁净度控制:键合界面的微小污染物会严重影响键合质量和可靠性,需要在超净环境下完成整个封装过程。
• 热应力管理:不同材料的热膨胀系数差异会导致键合后产生应力,影响器件性能和可靠性。
• 缺陷检测与控制:键合界面的空洞、裂纹等缺陷难以检测和控制,需要开发更精密的检测技术。
• 成本与良率平衡:先进键合设备投资巨大,如何在保证高良率的同时控制成本是产业化面临的实际问题。
技术发展前景:
混合键合技术被业界普遍认为是后摩尔时代高密度3D异构集成的必选技术路线。相比传统焊料凸块,混合键合能将互连密度提升1-2个数量级,同时实现无凸块、低寄生、低延迟、低功耗的优势。
在AI大算力时代,当单芯片面临功耗、面积、良率三大瓶颈时,先进封装已成为新的“摩尔定律"载体。混合键合作为3D集成最核心的结构性支撑技术,正在推动HBM、3D DRAM、3D NAND等产品的快速发展。
未来发展趋势包括:
• 工艺温度进一步降低:开发更多低温键合技术,保护温度敏感器件。
• 对准精度持续提升:从微米级向纳米级甚至原子级发展。
• 材料体系创新:开发新型键合材料和界面工程方案。
• 设备智能化:引入AI实时感知与智能补偿技术。
• 标准化进程加速:推动Chiplet接口和键合工艺的标准化。
01
主要设备厂商
一、EV Group(EVG)
全球晶圆键合设备行业绝对龙头,产品覆盖全系列晶圆键合工艺,在等离子体活化键合、混合键合领域拥有绝对技术优势,主打 GEMINI 系列混合键合系统,可实现 < 50nm 的对准精度,深度绑定台积电、三星、英特尔等全球顶尖晶圆厂,是 CIS、3D NAND、HBM 领域的主流设备供应商。
二、SUSS MicroTec

全球晶圆键合设备领域主流厂商,在 MEMS 键合、阳极键合领域拥有不可替代的优势,同时推出了业界将所有混合键合工艺集成于单一平台的设备系统,对准精度可达 50nm,在 3D 堆叠、系统级芯片领域竞争力强劲,广泛服务于全球科研院所和量产产线。
三、东京电子(TEL)

全球半导体设备全产业链头部企业,在热压键合、混合键合领域技术积累深厚,深度绑定台积电、三星等头部代工厂,其键合设备大量应用于先进逻辑芯片和存储芯片的量产线,在 300mm 晶圆量产设备市场占据重要份额。
四、芯睿科技

聚焦半导体晶圆键合设备的研发、生产与销售,是国内少数能提供 2~12 英寸全尺寸临时键合 / 解键合、键合整体解决方案的厂商,产品可实现客制化定制,适配 SECS/GEM 数据传输协议,具备高度自动化能力。
晶圆键合技术,不仅是后摩尔时代芯片性能突破的 “钥匙",也是我国半导体设备领域国产替代的核心赛道。随着先进封装的全面普及,这项技术将持续向更深层次演进,而国产设备的突破,也将为我国半导体产业的自主可控发展,筑牢最坚实的根基。