
随着海洋防腐材料、动力电池电极、催化界面、防护涂层、半导体镀层等前沿领域研究不断精细化,传统宏观电化学检测模式的局限性被持续放大。常规电化学工作站仅能采集试样整体的平均电化学信号,材料局部点蚀、界面劣化、活性位点分布、涂层微小缺陷这类微米尺度的异变,都会被整体测试数据抹平,科研人员无法捕捉失效源头与反应演化全过程。
当下高校重点实验室、材料研究院、车企电池研发中心、海洋工程院所,均需要可实现空间可视化、原位追踪、多参数同步成像的微区表征设备。微区电化学不再是宏观测试的补充手段,已然成为解析界面反应机理、验证材料改性方案、评估防护体系长效稳定性的核心刚需工具。VersaScan 作为 AMETEK 旗下旗舰级一体化微区扫描电化学平台,整合多类扫描探针电化学技术,搭建起从形貌观测到电化学信号成像的全链条检测体系,适配腐蚀防护、电化学催化、储能材料、生物电化学等多场景科研需求,填补宏观测试与微观界面表征之间的数据空白。
01
设备核心参数

VersaSCAN 微区扫描电化学工作站的系统架构建立在高精度闭环定位系统之上,搭配普林斯顿经典的 VersaSTAT 系列恒电位仪与 Signal Recovery 锁相放大器,通过统一的软件平台实现全流程控制与数据分析。
• 定位系统:X,Y,Z三轴方向均采用高精度的压电马达和闭环控制系统;
• 光学平台:钢质蜂窝状光学平台,采用抗震技术;
• 扫描范围(X、Y、Z):100 mm×100 mm×100 mm;
• 扫描分辨率(X、Y、Z三向均达到):≤1 nm;
• 线性位移编码分辨率:50 nm;
• 最大扫速:10 mm/s;
• 3D软件控制与分析软件:平台控制与各种微区分析技术一体化集成软件,所有的分析软件在同一个界面的软件下面,包括3D软件;
• 系统集成性:定位系统与电化学工作站均由同一制造商生产,原生兼容;
• 电化学功能:配置两台功能独立的电化学工作站,且均配置FRA阻抗测试功能。
02
六大核心功能模块
VersaScan的特点是单一平台支持多种扫描技术,用户可根据研究需求选配模块,且所有模块共用同一套定位系统与软件界面,切换技术无需复杂的硬件改造。
一、VersaSCAN SECM 扫描电化学显微镜系统

VersaSCAN SECM 整合了定位系统、两台VersaSTAT恒电位仪和锥形抛光的*微电极探针为一体。SECM多样化的技术提供了高空间分辨率,可应用于反应动力学,生物传感器,催化剂和腐蚀机理等研究。
• 兼容恒电位仪:VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
• 可进行逼近曲线实验包含“反馈"模式和“发生-采集"模式两种成像模式。
• 结合了表面形貌测量技术,如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP,可进行样品表面定距离扫描。
• VersaSTATs 配置不同功能的操作软件,能够提供出色的成套的非扫描电化学测试,取决于其独特的软件模式。
二、VersaSCAN SVET 扫描振动电极测量系统

VersaSCAN SVET 整合了定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier),压电振动模块,电位计和单丝探针。 SVET技术测量溶液中的电压降。电解液中的电压降是由样品表面的局部电流所导致的。 SVET提供高分辨率可应用于不均匀腐蚀,点蚀,焊接和电耦合等。此外,SVET还有生物方面的应用。
• 锁相放大器:Signal Recovery 7230。
• 可进行线扫描和面扫描。
• 当设定不同的测量时间测量,可进行时间分辨成像。
• 结合了表面形貌测量技术,如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP,可进行样品表面定距离扫描。
三、VersaSCAN LEIS 微区电化学阻抗测试系统

VersaSCAN LEIS 整合了定位系统和 VersaSTAT 3F 及差分电压选项,静电计,双探头探针。 LEIS 技术是通过测量施加于样品的交流电压和由探针所测量的溶液中交流电流的比值,来计算局部阻抗,LEIS 加入高的空间分辨率,可应用于有机涂层,裸露的金属腐蚀,和所有和增加的交流技术相关的应用。
• 恒电位仪:VersaSTAT 3F 及差分辅助选项。
• 可进行固定频率/扫描位置的数据成像,和固定位置/扫描频率的 Bode 图或者 Nyquist 图。
• 当设定不同的测量时间测量,可进行时间分辨成像
• 结合了表面形貌测量技术,如典型的如非接触式微区形貌扫描系统 OSP,可进行样品表面定距离扫描。
四、VersaSCAN SKP 扫描开尔文探针系统

VersaSCAN SKP整合定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和钨丝探针。SKP 技术测量探针和样品表面位置的相对功函差。这是一个非破坏的技术,可运行于环境气氛,潮湿气氛和无电解液情况下。相对功函已经被证实与腐蚀电位 (Ecorr)相关。SKP 提供的高空间分辨率可应用于材料,半导体,金属腐蚀,甚至这些材料上的涂层。
• 锁相放大器:Signal Recovery 7230。
• 可进行表面形貌测量,测量和设置探针和样品间的距离。
• 使用同一探针,结合所进行的表面形貌测量,进行样品表面定距离扫描。
五、VersaSCAN SDC 电解液微滴扫描系统

VersaSCAN SDC 整合电位系统和一台 VersaSTAT,一个机械加工的PTFE 滴液系统头,以及一个蠕动泵。SDC 技术对电解液微滴进行电化学测量,固定电极/电解液界面的面积。SDC提供高空间分辨率可应用于动力学,腐蚀,流体研究和任何研究样品表面微小面积而无需破坏样品的应用或者控制面积在不同电解液中的暴露时间的应用。
• 恒电位仪:VersaSTAT 3 / 3F /4。
• 可进行恒定电化学参数/位置扫描的数据成图和固定位置/动态信号的绘图,如循环伏安,塔菲尔,电化学交流阻抗等。
• 可运行流动或者是静止的电解液液滴。
六、VersaSCAN OSP 非触式光学微区形貌测试系统

VersaSCAN OSP整合定位系统和高精度,高速度激光位移传感器。OSP 技术使用漫反射机理用于样品的表面形貌。OSP可作为非常灵敏水平的机制用于表面形貌测量,或绘制地形图与其它扫描探针技术一起应用于样品表面定距离扫描测试。
03
行业痛点分析与技术解决方案
一、宏观平均信号掩盖微区异质性,反应位点无法精准定位

痛点:传统电化学测试得到的是整个电极表面的积分信号,当样品表面存在局部腐蚀点、活性位点或涂层缺陷时,这些关键区域的特征信号会被大面积的背景区域所平均,导致研究人员无法判断反应究竟发生在何处,也无法量化局部区域与整体区域的性能差异。对于点蚀萌生、晶界腐蚀、涂层破损等高度局域化的电化学过程,传统方法几乎无能为力。
技术解决方案:VersaScan 系统采用数十微米乃至微米级的超微电极探针,在距离样品表面几十到几百微米的高度上进行逐点 raster 扫描。由于探针尺寸极小,每次采集的信号仅来自探针正下方的微小区域,而非整个样品表面。通过逐行扫描并记录每个坐标点的电化学响应,系统可以构建出完整的二维或三维电化学活性分布图,将原本抽象的电流、电位、阻抗数据转化为直观的彩色成像图谱。
二、单一技术维度有限,多技术联用存在对位偏差

痛点:微区电化学过程往往涉及电位分布、电流密度、界面阻抗、表面形貌等多个维度的信息,单一测试技术只能反映其中一个侧面。而传统实验室通常采用不同设备分别测试不同参数,不仅操作繁琐、效率低下,更关键的是难以保证多次测试都精准对准同一微区。人工对位带来的空间偏差,会导致不同技术获得的数据无法严格对应,给机理分析带来很大不确定性。
技术解决方案:VersaScan 采用统一硬件基座与软件控制系统,七大微区检测模块模块化插拔式加装,一套硬件平台即可完成形貌观测、电位分布测绘、微区电流成像、局域阻抗测试、微滴局部电化学测试等全部试验。所有测试数据基于同一坐标系采集,多组图谱可直接叠加分析,无需多台设备分别制样、分别测试,大幅缩减仪器采购成本,同时规避不同设备测试条件不一致造成的数据无法对照的科研误差。
三、接触式测量易损伤样品,软质 / 脆弱样品测试受限

痛点:传统接触式探针技术需要探尖与样品表面直接接触,这对于软质涂层、生物样品、敏感薄膜、多孔材料等脆弱样品来说,极易造成表面划伤、结构破坏甚至样品失效。同时,接触压力也会改变界面的真实电化学环境,导致测量结果偏离样品的本征状态。而对于表面起伏较大的样品,接触式探针还存在爬坡困难、容易卡针的问题。
技术解决方案:系统配置 OSP 非接触激光形貌模块,扫描前先采集样品表面三维形貌轮廓,自动实时校准探针高度,实现恒定间距扫描成像;配套自研软探针 SECM 技术,探针接触作用力仅为传统硬探针的千分之一,针对薄膜电极、钝化膜、生物试样、凹凸腐蚀试样均可无损检测,消除样品形貌起伏带来的信号漂移问题,保障成像图谱真实还原界面电化学状态。
四、环境振动与噪声干扰微弱信号,数据重复性差

痛点:微区电化学信号本身极其微弱,往往处于纳安甚至皮安量级,实验室环境中的地面振动、声学噪声、温度漂移、电磁干扰等因素,都极易造成信号基线漂移与噪声增大,导致数据信噪比低、重复性差,甚至无法区分真实信号与环境噪声。尤其是在需要长时间扫描的大区域测试中,环境扰动的累积效应更为明显。
技术解决方案:整机标配蜂窝式阻尼抗震光学平台,隔绝地面震动、周边仪器运行振动干扰;电化学检测单元搭配浮地电路设计与高精度锁相放大器,过滤外界电磁杂波,超高分辨率电流档位可稳定采集皮安、安托安级微弱反应信号;闭环压电定位系统运行稳定性强,多次重复扫描成像重合度高,测试数据信噪比优异,图谱质量满足 SCI 期刊配图标准,提升论文数据可信度。
04
应用场景与案例
应用场景
一、金属腐蚀与防腐

用于各类合金、钢材的局部点蚀、缝隙腐蚀、焊接区腐蚀机理研究;可检测钝化膜、氧化膜、防腐涂层的缺陷与失效过程;适配海洋、大气、盐雾等工况,用于缓蚀剂、防腐涂料性能验证与寿命评估。
二、能源材料与电化学器件

适配锂电、燃料电池、电解水领域:筛查电催化剂活性位点、分析电极界面老化与失效;观测锂枝晶生长、SEI膜稳定性;检测质子膜、隔膜的局部传质缺陷,助力新能源材料性能优化。
三、表面处理与电镀工艺

检测电镀镀层厚度不均、针孔、局部缺陷;监测阳极氧化、电化学抛光、功能薄膜沉积过程的微观反应差异,优化沉积、抛光工艺均匀性。
四、生物医药与植入器械

评价骨科、心血管金属植入物在体液环境中的微观腐蚀、离子析出情况;研究微生物膜引发的金属腐蚀,同时可用于生物传感、生物界面电化学反应检测。
五、基础界面电化学研究

实现固液界面反应、离子浓度分布二维成像;结合激光形貌同步表征,区分材料形貌差异与电化学活性差异,研究界面电子转移、缓蚀剂吸附等基础机理。
应用案例
一、浙江大学

可实现对材料不同微尺度区域内腐蚀电化学特性的测量,进而实现微区腐蚀电化学的研究。
二、中山大学

主要应用于生物传感器、反应动力学、多孔薄膜研究、燃料电池催化剂和腐蚀机理。
三、东南大学

材料科学与工程学院主要做微电子封装材料腐蚀、电子元器件界面电化学失效、防腐镀层均匀性检测的实验。
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实施与部署
一、前期场地与环境适配规划
设备进场前协助完成实验室选址规划,优先规划低震动楼层区域,远离离心机、空压机等强振动设备;实验室保持恒温恒湿环境,规避温湿度大幅波动影响压电定位精度;根据设备整体尺寸规划光学平台摆放空间,预留探针调试、样品拆装的操作区域,同步规划供电接地线路,做好电磁接地处理,从源头保障设备运行环境达标。
二、进场安装、硬件调试与模块校准
原厂技术工程师上门完成整机组装、各模块硬件接线、通讯链路调试,对三轴位移精度、电流检测档位、探针初始位置开展校准;针对客户选定的 SECM、SVET 等功能模块,完成标准样品成像测试校准,出具校准检测报告,确保设备各项参数达到出厂标称精度,所有硬件单元联动运行稳定无异常。
三、分层实操培训体系
分为基础操作与高阶科研应用两层培训,基础培训包含样品制备、探针安装更换、扫描参数设置、基础图谱采集、软件基础数据导出操作;高阶培训围绕对应研究方向,讲解多模块联用测试方案、原位长时间监测程序编写、电化学成像图谱叠加分析、试验数据拟合处理方法,配套实操上机练习,确保实验室操作人员可独立完成常规试验与复杂微区表征测试。
四、质保运维与长期技术支持
整机提供标准质保服务,配套定期远程巡检、硬件故障快速响应上门维修服务;持续提供测试方案技术答疑,针对科研课题设计专属微区电化学检测方案,同步推送行业应用文献、试验实操技巧资料;后续新增功能模块可直接现场加装调试,不用改动原有主机硬件,实现设备能力的平滑升级。
五、科研落地配套赋能
对接设备相关标准测试方法、经典试验方案库,协助课题组搭建标准化微区电化学试验流程;针对论文测试数据配图、图谱优化处理提供技术指导,充分发挥设备价值,助力科研产出高质量学术成果与企业自研材料的性能迭代升级。
在微观界面电化学成为材料研发核心突破口的当下,单一宏观电化学测试早已无法满足深层次机理探究需求。VersaScan 微区扫描电化学工作站依靠一体化模块化架构、纳米级扫描精度、多技术同步表征能力,打通从宏观性能测试到微观界面可视化解析的技术壁垒,为腐蚀防护、储能电化学、催化材料、界面涂层等领域研究提供可靠、完整的微区电化学整体解决方案,成为实验室精细化表征体系建设的核心标配仪器。