OFDS-H高精度光纤应变解调仪基于光纤瑞利散射指纹特性研发，利用散射光谱波长偏移与应变的定量关联实现高精度测量。光纤受应变作用时，瑞利散射光谱强度保持稳定，仅发生波长偏移，通过采集应变前后光谱信息，经拍频干涉信号分析与互相关运算，精准求解光谱频率（波长）变化量，结合核心算法模型推导形变量。

OFDS-H高精度光纤应变解调仪基于光纤瑞利散射指纹特性研发，利用散射光谱波长偏移与应变的定量关联实现高精度测量。光纤受应变作用时，瑞利散射光谱强度保持稳定，仅发生波长偏移，通过采集应变前后光谱信息，经拍频干涉信号分析与互相关运算，精准求解光谱频率（波长）变化量，结合核心算法模型推导形变量。

OFDS-H高精度光纤应变解调仪特点：

• 自主研发、具备自主知识产权的国产仪器                         

• 精确测量温度/应变分布、振动等外界参量                         

• 测量容量高达10⁵（容量=距离/空间分辨率）                         

• 空间分辨率0.5mm、最大测试距离20km              

• 应变/温度测量精度为1με/0.1℃                 

• 最大应变测量范围可达±20000με               

• 多测量通道巡检/同时检可扩展          

应用场景：

• 支持动态应变测试和振动测试，系统稳定性好，抗干扰能力强，可用于机械结构、土木结构、新能源电池、飞行器、应变和振动测试；

• 快速地定位精密器件\光纤光路中的内应力、温度分布情况，反演器件内部结构。