OFRD-H高精度光频域反射仪是一种基于光调频连续波（FMCW）原理的分布式光纤测量技术，它利用扫频光干涉信号频率与光纤位置之间的傅里叶变换关系，精确获取沿光纤分布的散射/反射/损耗、相位等特征信息。

OFRD-H高精度光频域反射仪是一种基于光调频连续波（FMCW）原理的分布式光纤测量技术，它利用扫频光干涉信号频率与光纤位置之间的傅里叶变换关系，精确获取沿光纤分布的散射/反射/损耗、相位等特征信息。

OFRD-H高精度光频域反射仪特点

• 自主研发、具备自主知识产权的国产仪器                     

• 精确测量光学插损/回损分布、反射等参数             

• 精确定位事件/故障位置、测量传输时延        

• 测量容量高达10⁷（容量=距离/空间分辨率）                 

• 时延测量精度优于 2ps@120m，可自校准                                                                        

• 空间分辨率达20μm、最大测试距离15km                                           

• 具备光学色散及双折射色散的高精度补偿功能

应用场景

• 实现800G/1.6T/3.2T光互连模块、光纤光路/链路（MPO、FAU）、光无源/有源器件的插损、回损、时延等光学参量测试与故障定位；

• 快速定位及诊断光纤/光路的弯折、熔接、连接头及断裂等各类事件故障。